2024九峰山论坛暨中国国际化合物半导体产业博览会

平行论坛7：先进半导体检测技术与标准 Parallel Forum 7: Testing Technologies and Standards of Advanced Semiconductors
时间：2024年4月10日 13:30-18:15 & 11日 08:30-12:05 Time: April 10, 2024 13:30-18:15 & April 11, 2024 08:30-12:05 地点：中国武汉光谷科技会展中心 • 三层 • 大会议厅2-B Location: China Optics Valley Convention & Exhibition Center • 3rd Floor • Grand Conference Hall 2-B
4月10日 / April 10

13:30-13:55	IEC宽禁带半导体国际标准现状及发展趋势 Current Status and Development Trends of IEC International Standards for Wide Bandgap Semiconductors 崔波——中国电子科技集团公司第十三研究所研究员、全国半导体器件标准化技术委员会秘书长 CUI Bo——Researcher of The 13^th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation & Secretary-general of National Technical Committee 78 on Semi-conduction Devices of Standardization Administration of China
13:55-14:20	SIMS 在化合物半导体表征上的应用 SIMS Characterization for Compound Semiconductor R&D and Manufacturing 高玉民——九峰山实验室质谱检测中心首席科学家、微分科技有限公司总经理 GAO Yumin——Chief Scientist of Mass Spectrometry Testing Center at JFS Lab & General Manager of WF Technologies
14:20-14:45	宽禁带功率半导体动态可靠性测试的挑战--以及如何克服这些挑战 Challenges in dynamic reliability testing of WBG Power Semiconductors – and how to overcome them Frank HEIDEMANN——恩艾中国仪器有限公司(NI)副总裁 Frank HEIDEMANN——Vice President and Technology Leader of National Instruments
14:45-15:10	化合物半导体材料中痕量杂质检测方法介绍 Introduction to detection methods for trace impurities in compound semiconductor materials 李春华——上海市计量测试技术研究院电子化学品计量检测技术服务平台主任 LI Chunhua—— E-chemicals SGS Chief of SIMT
15:10-15:35	针对新一代化合物半导体的失效分析解决方案 Failure Analysis solution for next generation compound semiconductor 傅超——胜科纳米(苏州)股份有限公司副总经理 FU Chao——Deputy General Manager of Wintech Nano(Suzhou)Co.,Ltd.
15:35-16:00	(0001) InGaN/GaN量子阱中绿光以外纳米应变弛豫与发光抑制研究 Luminescence quenching versus strain relaxation at the nanoscale in (0001) InGaN/GaN quantum wells for emission beyond the green range Pierre RUTERANA——法国国家科学研究中心CNRS主任研究员 Pierre RUTERANA——Chief Researcher of CNRS
16:00-16:15	茶歇 / Coffee Break

16:15-16:40	同步辐射x射线在半导体上的应用 The application of synchrotron x-rays on semiconductors 坂田修身——日本高能同步辐射研究中心常务董事 Osami SAKATA——Executive Managing Director of Japan Synchrotron Radiation Research Institute
16:40-17:05	第三代化合物半导体材料表征技术 Characterization Techniques of Wide Band-gap Semiconductor Materials 麦志洪——九峰山实验室检测中心首席科学家 MAI Zhihong——Chief Scientist of Testing Center at JFS Laboratory
17:05-17:30	碳化硅晶圆缺陷检测设备国产化进程与挑战 The localization process and challenges of defect inspection equipment for silicon carbide wafers 李昊然——中电科风华信息装备股份有限公司半导体市场总监 LI Haoran——Semiconductor Marketing Director of CETC FENGHUA Information-Equipment CO.,Ltd
17:30-17:55	面向化合物半导体集成器件的国产化测试仪器研发进展 Research and Development Progress of Domestic Testing Instruments for Compound Semiconductor Integrated Devices 刘志明——中电科思仪科技股份有限公司光电仪器研发部主任 LIU Zhiming——Director of the R&D department of optoelectronic instruments, Ceyear Technologies Co., Ltd
17:55-18:20	SiC MOSFET可靠性评估挑战与失效机理 Reliability evaluation challenges and failure mechanisms of SiC MOSFETs 陈媛——工业和信息化部电子第五研究所研究员 CHEN Yuan——Researcher of CEPREI
4月11日 / April 11

08:30-08:55	GaN功率器件标准测试验证及规划思考 Test Verification and Standard Planning of GaN Power Devices 贺致远——广东工业大学集成电路学院教授 HE Zhiyuan——Professor of School of Integrated Circuits, Guangdong University of Technology
08:55-09:20	高精测量与分析技术助力MEMS惯性器件从概念到量产 High precision measurement and analysis technologies assisting MEMS inertial devices from concept to mass production 刘彬——深迪半导体（绍兴）有限公司 MEMS技术高级总监 LIU Bin——MEMS Senior Technical Director of Senodia Technologies (Shaoxing)Co., Ltd
09:20-09:45	表面分析于化合物半导体的应用 Applications of Surface Analysis to Compound Semiconductors 杨政霖——闳康技术检测（上海）有限公司表面分析部门主管 YANG Zhenglin——Supervisor of Surface Analysis Department ，Materials Analysis Technology (Shanghai)Ltd.
09:45-10:10	APT在半导体的应用（拟）三维原子探针在半导体中的应用 The application of three-dimensional atomic probes in semiconductors 黄亚敏——上海汽车芯片工程中心有限公司失效分析总监 HUANG Yamin——Invalid Analysis Director of SAICEC
10:10-10:35	“双碳”目标下SiC功率半导体模块测试挑战及应对 Testing Challenges and Solutions for SiC Power Semiconductor Modules under "Dual Carbon" Target 王承——武汉普赛斯仪表有限公司副总经理 WANG Cheng——Deputy General Manager of WuHan Precise Instrument Co. , Ltd.
10:35-10:50	茶歇 / Coffee Break
10:50-11:15	SiC功率半导体 JEDEC新标解读与测量 SiC Power Semiconductor JEDEC New Standard Interpretation and Measurement 郭志勋——是德科技（KEYSIGHT）技术专家 GUO Zhixun——Technical Expert of KEYSIGHT
11:15-11:40	SCM在半导体掺杂分析的应用 Application of SCM in Semiconductor Doping Analysis 冯骅——掺流科技（上海）有限公司总经理 FENG Hua——General Manager of SHARP SCAN
11:40-12:05	宽禁带半导体（GaN/SiC）的量产测试挑战及解决方案 Mass Production testing challenges and solutions for wide bandgap semiconductors (GaN/SiC) 刘惠鹏——华峰测控市场部总监 LIU Huipeng——Marketing Director of Beijing Huafeng Test & Control Technology Co.,Ltd.

平行论坛7：先进半导体检测技术与标准